Laboratórium pre detekciu klastrov

Laboratórium slúži na analýzu tenkých a ultratenkých vrstiev pre elektrotechnické aplikácie. Zariadenie umožní in-situ štúdium procesov usporiadania nanočastíc a nanoklastrov.
Skladá sa z dvoch častí:

zo zdroja rtg žiarenia s mikrofokusujúcim prvkom a
z rýchleho dvojrozmerného rtg detektora.

V laboratóriu sa zameriavame na analýzu súborov nanoštruktúr a nanočastíc s využitím metód malouhlového rtg rozptylu GISAXS (grazing incidence small angle X-ray scattering) a SAXS (small angle X-ray scattering).
Zariadenie nazývame LAB-GISAXS a môže pracovať v stacionárnom a dynamickom móde. Stacionárny mód umožní GISAXS analýzu homogenity a uniformnosti tenkých vrstiev, multivrstiev, súborov nanočastíc a nanoštrukúr na podložke.
Dynamický mód budeme využívať na sledovanie časovo rozlíšených procesov pri procese usporiadavania nanočastíc s časovým rozlíšením 25 ms.
Poznatky získané týmto zariadením podstatne urýchlia zvládnutie prípravy usporiadaných nanočasticových vrstiev vhodných pre technologické aplikácie v mnohých oblastiach.

kontakt pre ďalšie informácie