Shaji, A., Vegso, K., Sojková, M., Hulman, M., Nádaždy, V., Hutár, P., Pribusová Slušná, L., Hrdá, J., Bodik, M., Hodas, M., Bernstorff, S., Jergel, M., Majková, E., Schreiber, F., and Šiffalovič, P.: Orientation of few-layer MoS2 films: in-situ x-ray scattering study during sulfurization, J. Phys. Chem. C 125 (2021) 9461–9468.
1. Kim, J.H.: Nano Energy 91 (2022) 106693.