Mgr. Vojteková Tatiana

Vegso, K., Shaji, A., Sojková, M., Pribusová Slušná, L., Vojteková, T., Hrdá, J., Halahovets, Y., Hulman, M., Jergel, M., Majková, E., Wiesmann, J., and Šiffalovič, P.: A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber,  Rev. Sci Instrum. 93 (2022) 113909.

1. Kneschaurek, E.: Rev. Sci Instrum. 94 (2023) 063901.

Shaji, A., Vegso, K., Sojková, M., Hulman, M., Nádaždy, P., Halahovets, Y., Pribusová Slušná, L., Vojteková, T., Hrdá, J., Jergel, M., Majková, E., Wiesmann, J., and Šiffalovič, P.: Stepwise sulfurization of MoO₃ to MoS₂ thin films studied by real-time X-ray scattering, Applied Surface Sci 606 (2022) 154772.

1. Cabeda, D.S.: Applied Surface Sci 610 (2023) 155488.
2. Somphonsane, R.: Materials 16 (2023) 4817.

Hrdá, J., Tašková, V., Vojteková, T., Pribusová Slušná, L., Dobročka, E., Píš, I., Bondino, F., Hulman, M., and Sojková, M.: Tuning the charge carrier mobility in few-layer PtSe₂ films by Se: Pt ratio, RSC Adv. 11 (2021) 27292.

1. Li, J.: Adv. Mater. (2022) 2207796.