Ing. Zdenko ZÁPRAŽNÝ, PhD.

2019

Nádaždy, P., Hagara, J., Jergel, M., Majková, E., Mikulík, P., Zápražný, Z., Korytár, D., and Šiffalovič, P.: Exploiting the potential of beam-compressing channel-cut monochromators for laboratory high-resolution small-angle X-ray scattering experiments, J. Applied Crystall. 52 (2019) 498-506.

Zápražný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Halahovets, Y., Kotlár, M., Maťko, I., Hagara, J., Šiffalovič, P., Keckes, J., and Majková, E.: Characterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics, Inter. J. Adv. Manufactur. Technol. 102 (2019) 2757-2767.

Kubanda, D., Zaťko, B., Šagátová, A., Žemlička, J., Zápražný, Z., Boháček, P., Dudák, J., Kováčová, E., and Nečas, V.: Performance of bulk semi-insulating GaAs-based sensor and its comparison to Si-based sensor for Timepix radiation camera, J. Instrument. 14 (2019) C01023.

2018

Zaťko, B., Hrubčín, L., Šagátová, A., Osvald, J., Boháček, P., Zápražný, Z., Sedlačková, K., Sekáčová, M., Dubecký, F., Skuratov, V.A., Korytár, D., and Nečas, V.: Schottky barrier detectors based on high quality 4H-SIC semiconductor: electrical and detection properties, Applied Surface Sci 461 (2018) 276-280.

Šagátová, A., Zaťko, B., Nečas, V., Dubecký, F., Tu, L.A., Sedlačková, K., Boháček, P., and Zápražný, Z.: From single GaAs detector to sensor for radiation imaging camera, Applied Surface Sci 461 (2018) 3-9.

Jergel, M., Halahovets, Yu., Maťko, I., Korytár, D., Zápražný, Z., Hagara, J., Nádaždy, P.,  Šiffalovič, P., Kečkéš, J., and Majková, E.: Finishing of Ge nanomachined surfaces for X-ray crystal optics, Inter. J. Advanced Manufact. Technol. 96 (2018) 3603–3617. (APVV 14-0745, VEGA 2/0092/18, ASFEU 26220220170, XTOPICS)

Korytár, D., Zápražný, Z., Ferrari, C., Frigeri, C., Jergel, M., Maťko, I., and Kečkeš, M.: Cross-sectional TEM study of subsurface damage in SPDT machining of germanium optics, Applied Optics 57 (2018) 1940-1943.

Zaťko, B., Zápražný, Z., Jakůbek, J., Šagátová, A., Boháček, P., Sekáčová, M Korytár, D., Nečas, V., Žemlička, J., Mora, Y., and Pichotka, M.: Imaging performance of Timepix detector based on semi-insulating GaAs, J. Instrument. 13 (2018) C01034.

Zaťko, B., Kubanda, D., Žemlička, J., Šagátová, A., Zápražný, Z., Boháček, P., Nečas, V., Mora, Y., Pichotka, M., and Dudák, J.: First tests of Timepix detectors based on semi-insulating GaAs matrix of different pixel size, J. Instrument. 13 (2018) C02013.

Zápražný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Halahovets, Yu., Ferrari, C., Frigeri, C., Dobročka, E., Keckes, J., and Hagara, J.:  Towards x-ray crystal channel-cut monochromators prepared by nano-machining technique, Mater. Struct. 25 (2018) 75-78.(ASFEU 26220220170, APVV 14-0745, VEGA 2/0092/18, XOPTICS)

Zápražný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Halahovets, Y., Kotlár, M., Maťko, I., Hagara, J., Šiffalovič, P., Keckes, J., and Majková, E.: Study of chips originating from nanomachining of monocrystalline germanium for X ray optics. In: 10th Inter. Conf. Solid State Surfaces Interfaces Conf. – SSSI 2018. Extended Abstract Book. Eds. R. Brunner et al. Bratislava: Comenius Univ., 2018, pp. 85-86. ISBN 978-80-223-4606-1.

Jergel, M., Halahovets, Y., Maťko, I., Šiffalovič, P., Majková, E., Korytár, D., and Zápražný, Z.: Surface finishing of X-ray crystals optics after nanomachining. In: 10th Inter. Conf. Solid State Surfaces Interfaces Conf. – SSSI 2018. Extended Abstract Book. Eds. R. Brunner et al. Bratislava: Comenius Univ., 2018, pp. 30-33. ISBN 978-80-223-4606-1.

Korytár, D., Zápražný, Z., Jergel, M., Ferrari, C., Halahovets, Y., and Dobrovodský, J.: Surface quality, subsurface damage and mechanisms of material removal in nanomachining of brittle materials. In: 10th Inter. Conf. Solid State Surfaces Interfaces Conf. – SSSI 2018. Extended Abstract Book. Eds. R. Brunner et al. Bratislava: Comenius Univ., 2018, pp. 43-46. ISBN 978-80-223-4606-1.

  • 2017

Zápražný, Z., Korytár, D., Halahovets, Yu., Jergel, M., Ferrari, C., Hagara, J., and Dobročka, E.:  Diffraction surfaces in x-ray crystal monochromators prepared by nano-machining technique, Mater. Struct. 24 (2017) 25-26.

  • 2016
Šiffalovič, P., Végsö, K., Hodas, M., Jergel, M., Halahovets, Y., Pelletta, M., Korytár, D., Zápražný, Z., Majková, E., : In situ x-ray reciprocal space mapping for characterization of nanomaterials In: X-ray and neutron techniques for nanomaterials characterization. Ed. C. S.S.R. Kumar. Berlin, Springer 2016. ISBN 978-3-662-48604-7. P. 507-544.

 

Drga, J., Korytár, D., Zápražný, Z., Jergel, M., Halahovets, Y., : Influence of tool rake angle used for nanomachining of germanium In: Transfer 2016 – 17th Inter. Sci Conf. Trenčín: TU A. Dubčeka, 2016. ISBN 978-80-8075-756-4.. (APVV 14-0745). (VEGA 2/0004/15). (COST MP1203). (COST MP1207). (ITMS 26220220170).

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Šiffalovič, P., Halahovets, Y., Keckes, J., Maťko, I., Ferrari, C., Vagovič, P., Mikloška, M., : Nano-machining for advanced x-ray crystal optics. AIP Conf. Proc. 1764 (2016) 020005. (ITMS 26220220170). (APVV 14-0745). (APVV 0308-11). (VEGA 2/0004/15). (COST MP1203). (COST MP1207).

 

Hrivňak, S., Uličný, J., Mikeš, L., Cecilia, A., Hamann, E., Baumbach, T., Švéda, L., Zápražný, Z., Korytár, D., Gimenez, E., Wagner, U., Rau, C., Greven, H., Vagovič, P., : Single-distance phase retrieval algorithm for Bragg Magnifier microscope. Optics Express 24 (2016) 27753-27762. (APVV 14-0745). (VEGA 2/0004/15). (ITMS 26220220170). (COST MP1203). (COST MP1207).

 

Végsö, K., Jergel, M., Šiffalovič, P., Majková, E., Korytár, D., Zápražný, Z., Mikulík, P., Vagovič, P., :Towards high-flux X-ray beam compressing channel-cut monochromators. J. Applied Crystall. 49 (2016) 1885-1892.

 

  • 2015
Zápražný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Šiffalovič, P., Dobročka, E., Vagovič, P., Ferrari, C., Mikulík, P., Demydenko, M., Mikloška, M., : Calculations and surface quality measurements of high-asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging and metrological applications. Optical Engn. 54 (2015) 035101. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (COST MP1203). (COST MP1207).

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Jergel, M., Šiffalovič, P., Halahovets, Y., Mikloška, M., : Nano-machining for x-ray crystal optics In: Proc. ADEPT. 3st Inter. Conf. on Advan. in Electronic and Photonic Technol. Eds. D. Pudis et al. Žilina: Univ. Žilina 2015. ISBN 978-80-554-1033-3. P. 243-246. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (COST MP1203). (COST MP1207).

 

Korytár, D., Halahovets, Y., Jergel, M., Zápražný, Z., : Nanomachining of hard X-ray crystal optics,. DGaO Proc. 2015.. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (VEGA 2/0004/15). (COST MP1203). (COST MP1207).

 

Hodas, M., Šiffalovič, P., Pelletta, M., Halahovets, Y., Jergel, M., Majková, E., Korytár, D., Zápražný, Z., Vagovič, P., : Passivation of ge crystals by B4C thin layer deposition In: Proc. 21th Inter. Conf. on Applied Phys. of Cond. Matter (APCOM 2015). Eds. J. Vajda and I. Jamnický. Bratislava: FEI STU 2015. ISBN 978-80-227-4373-0. P. 180-183. (APVV 0308-11). (COST MP1203). (COST MP1207).

 

  • 2014
Wachulak, P., Wegrzynski, L., Zápražný, Z., Bartnik, A., Fok, T., Jarocki, R., Kostecki, J., Szczurek, M., Korytár, D., Fiedorowicz, H., : Extreme ultraviolet tomography of multi-jet gas puff target for high-order harmonic generation. Applied Phys. B 117 (2014) 253-263. . (COST MP1203). (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11).

 

Wachulak, P., Wegrzynski, L., Zápražný, Z., Bartnik, A., Fok, T., Jarocki, R., Kostecki, J., Szczurek, M., Korytár, D., Fiedorowicz, H., : Extreme ultraviolet tomography using a compact laser–plasma source for 3D reconstruction of low density objects. Optics Lett. 39 (2014) 532-535.

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Šiffalovič, P., Jergel, M., Demydenko, M., Mikulík, P., Dobročka, E., Ferrari, C., Vagovič, P., Mikloška, M., : Simulations and surface quality testing of high asymetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging applications. Proc. SPIE 9207 (2014) 92070Y. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (COST MP1203).

 

Vagovič, P., Švéda, L., Cecilia, A., Hammann, E., Pelliccia, D., Gimenez, E., Korytár, D., Pavlov, K.,Zápražný, Z., Zuber, M., Koenig, T., Olbinado, M., Yashiro, W., Momose, A., Fiederle, M., Baumbach, T., :X-ray Bragg magnifier microscope as a linear shift invariant imaging system: image formation and phase retrieval,. Optics Express 22 (2014) 21508-21520. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11).

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Šiffalovič, P., Jergel, M., : X-ray crystal optics for analyser based imaging. In: Proc. 20th Inter. Conf. on Applied Phys. of Cond. Matter (APCOM 2014). Eds. J. Vajda and I. Jamnický. Bratislava: FEI STU 2014. P. 198-201.. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (COST MP1203).

 

  • 2013
Jergel, M., Šiffalovič, P., Végsö, K., Majková, E., Korytár, D., Zápražný, Z., Perlich, J., Ziberi, B., Cornejo, M., Vagovič, P., : Extreme x-ray beam compression for a high-resolution table-top grazing-incidence small-angle x-ray scattering setup. J. Applied Crystall. 46 (2013) 1544-1550. (APVV 0308-11). (KCMTE).

 

Vagovič, P., Korytár, D., Cecilia, A., Hamann, E., Švéda, L., Pelliccia, D., Härtwig, J., Zápražný, Z., Oberta, P., Dolbnya, I., Shawney, K., Fleschig, U., Fiederle, M., Baumbach, T., : High-resolution high-efficiency X-ray imaging system based on the in-line Bragg magnifier and the Medipix detector. J. Synchrotron Radiation 20 (2013) 153-159.

 

Korytár, D., Vagovič, P., Végsö, K., Šiffalovič, P., Dobročka, E., Jark, W., Áč, V., Zápražný, Z., Ferrari, C., Cecilia, A., Hamann, E., Mikulík, P., Baumbach, T., Fiederle, M., Jergel, M., : Potential use of V-channel Ge(220) monochromators in X-ray metrology and imaging. J. Applied Crystall. 46 (2013) 945-952. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (VEGA 2/0153/10).

 

Korytár, D., Vagovič, P., Ferrari, C., Šiffalovič, P., Jergel, M., Dobročka, E., Zápražný, Z., Áč, V., Mikulík, P., : Process-induced inhomogeneities in higher asymmetry angle x-ray monochromators. Proc. SPIE 8848 (2013) 8848-28. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11).

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Mikulík, P., Áč, V., : Processing of projections containing phase contrast in laboratory micro-computerized tomography imaging. J. Applied Crystall. 46 (2013) 933-938. (ITMS 26220220170). (APVV 0308-11). (VEGA 2/0153/10).

 

  • 2012
Zápražný, Z., Korytár, D., Áč, V., Konopka, P., Bielecki, J., : Phase contrast imaging of lightweight objects using microfocus X-ray source and high resolution CCD camera. J. Instrum. 7 (2012) C03005. (CENTE II). (APVV 51-0459-06). (VEGA 2/0153/10). (VEGA 2/0192/10).

 

  • 2011
Zápražný, Z., Korytár, D., Áč, V., Konopka, P., Bielecki, J., : Computerized tomography using high resolution X-ray imaging system with a microfocus source. In: APCOM 2011. Eds. D. Pudiš et al. Žilina: FEE TU, 2011. ISBN: 978-80-554-0386-1. P. 208-211.

 

Áč, V., Kasala, J., Korytár, D., Zápražný, Z., Konopka, P., : Practical experiences with X-ray micro tomography of aluminium alloys. In: APCOM 2011. Eds. D. Pudiš et al. Žilina: FEE TU, 2011. ISBN: 978-80-554-0386-1. P. 204-207.

 

  • 2010
Korytár, D., Ferrari, C., Mikulík, P., Vagovič, P., Dobročka, E., Áč, V., Konopka, P., Erko, A., Abrosimov, N.,Zápražný, Z., : 1D X‐ray Beam Compressing Monochromators. AIP Conf. Proc. 1221 (2010) 59-62.

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Dubecký, F., Áč, V., Stachura, Z., Lekki, J., Bielecki, J., Mudroň, J., : Experience with imaging by using of microfocus x-ray source, J. Electrical Engn. 61 (2010) 287-290.

 

Zápražný, Z., Korytár, D., Dubecký, F., Áč, V., Lekki, J., Stachura, Z., Bielecki, J., Mudroň, J., : First experience with imaging using microfocus x-ray source. In: APCOM 2010. Eds. J. Vajda and M. Weis. Bratislava: FEI STU, 2010. ISBN: 978-80-227-3307-6. P. 240-243.

 

Áč, V., Korytár, D., Zápražný, Z., Dobročka, E., : Thermally tuned x-ray V-shaped monochromator – simulations and experimental results. In: APCOM 2010. Eds. J. Vajda and M. Weis. Bratislava: FEI STU, 2010. ISBN: 978-80-227-3307-6. P. 93-96.