Hlavné ciele spoločného výskumu

• Pokrokové technológie pre výrobu a tvarovanie vysoko-kvalitných aktívnych povrchov kryštálovej optiky so subnanometrovou
  lokálnou drsnosťou,
• návrh a výroba nových monolitických prvkov kryštálovej optiky ako sú, multifunkčné kanálové monochromátory pre kompresiu alebo
  expanziu rtg lúčov,
• návrh polylitických systémov z kryštálovej optiky na báze planárnych monochromátorov,
• vysokokvalitné substráty a ochranné vrstvy pre interferenčné multivrstvové rtg zrkadlá a pre rtg kryštálovú optiku,
• pokroková diagnostika kvality povrchov a podpovrchového poškodenia kryštálovej mriežky v rozsahu od nanometrov po milimetre založená na viacerých komplementárnych metódach (multimodálna mikroskopia atomárnych síl, profilometria, Ramanova konfokálna mikroskopia, Laserová spektroskopia, zobrazovacia a spektroskpická elipsometria, rtg reflektometria, vysoko-rozlišovacia rtg difraktometria),
• vzťah medzi kvalitou povrchu a kryštálovou mriežkou z hľadiska lokálnej drsnosti, napätia, mriežkových defektov, atď. a výkonu jednotlitých elementov kryštálovej optiky,
• aplikácie rtg zväčšovákov v moderných rtg zobrazovacích a tomografických metódach s vysokým priestorovým rozlíšením, ktoré využívajú fázový kontrast (refrakčný mód),
• aplikácie rtg kompresorov v rtg metrológii a návrch nových nízko-nákladových meracích systémov (metódy malouhlového rtg rozptylu alebo stredne rozlišovacej rtg difrakcie),
• rtg a Gamma detektory pracujúce v režime počítania jednotlivých fotónov.